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CTS-8072PR+雙通道脈沖發生接收儀

CTS-8072PR+雙通道脈沖發生接收儀

產品時間:2024-12-09

訪問量:136

廠商性質:代理商

生產地址:

簡要描述:
CTS-8072PR+雙通道脈沖發生接收儀是應用于高頻檢測研究的專用儀器,具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路,以及由高性能尖脈沖發生器及高壓電源組成的尖波發射電路;提供雙通道數據采集功能,并可實現計算機同步控制。

CTS-8072PR+雙通道脈沖發生接收儀

CTS-8072PR+雙通道脈沖發生接收儀是應用于高頻檢測研究的專用儀器,具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路,以及由高性能尖脈沖發生器及高壓電源組成的尖波發射電路;提供雙通道數據采集功能,并可實現計算機同步控制。

產品介紹

CTS-8072PR+脈沖發生接收儀是應用于高頻檢測研究的專用儀器,具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路,以及由高性能尖脈沖發生器及高壓電源組成的尖波發射電路;提供雙通道數據采集功能,并可實現計算機同步控制。

功能特點

高精度測量:可以對物體的尺寸、形狀和位置進行精確測量。比如在工業無損檢測中,能夠準確檢測出零部件的微小缺陷。

窄波束:波束較窄,有助于提高檢測的方向性和定位精度。

特殊設計匹配高頻探頭的尖脈沖發生器,上升時間<3ns,-110V~-320V可調。

脈沖重復頻率可調,最高20kHz。

信號帶寬:20KHz~110MHz(-3dB)。

-6dB~+54dB,1dB步進的RF可調增益范圍。

20kHz或20MHz可選高通濾波器。

500MHz采樣率/12bit數據采集模塊。

標準網絡接口,實現計算機同步控制及數據采集。

提供本公司自主研發的30MHz、50MHz等系列高頻探頭。

性能指標

應用領域

應用領域:

電子專業:檢測集成電路芯片、印刷電路板的缺陷。超聲掃描顯微鏡SAM、高頻C掃等。

材料研究:評估微小材料的結構完整性,如復合材料中的微小裂紋。可應用于測量材料的聲學特性,如聲速、衰減等,包括材料晶粒度的評估等。

精密機械:檢測精密零部件的表面和內部缺陷。

探頭測試:可應用于高頻超聲波探頭的聲學特性的評價以及性能指標的測試。

聲學專業:探究高頻超聲在不同介質中的傳播特性。

應用案例:

 厚度測量

采用CTS-8072PR+高頻脈沖發射接收儀,配合我司自主研發的50MHz高頻探頭,可實現最薄0.08mm塞尺的厚度測量,測量結果準確,波形清晰,波形僅1個周期。

項目參數
脈沖類型負尖波
模式單、雙
脈沖下降及上升時間典型值<3ns,最大值≤3.5ns
脈沖幅度-110V~-320V
阻尼25Ω、33Ω、50Ω、100Ω共4檔可選
脈沖寬度7ns(50Ω阻尼)
脈沖重復頻率100Hz、200Hz、……、19kHz、20kHz共29檔可選
增益調節范圍-6dB~54dB
同步脈沖輸出TTL電平(輸出阻抗50Ω)
外部觸發輸入TTL電平,脈沖大于50ns
最大帶寬20kHz~110MHz
最大信號輸出±1.5Vp-p
高通濾波20kHz或20MHz
低通濾波110MHz
輸入阻抗50Ω
輸出阻抗50Ω
輸入輸出接口T,R,RF輸出,外部觸發Trig,同步輸出Sync
電源可選AC 220V或AC 110V,50Hz~60Hz,出廠標配為AC 220V
外型尺寸305mm×230mm×105mm(長×寬×高)
環境溫度0~50 ℃
重量5.0 kg



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